Moduł oferowany także w ramach programów studiów:
Informacje ogólne:
Nazwa:
Podstawy mikroelektroniki
Tok studiów:
2014/2015
Kod:
IEL-1-403-s
Wydział:
Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
Poziom studiów:
Studia I stopnia
Specjalność:
-
Kierunek:
Elektronika
Semestr:
4
Profil kształcenia:
Ogólnoakademicki (A)
Język wykładowy:
Polski
Forma i tryb studiów:
Stacjonarne
Osoba odpowiedzialna:
prof. zw. dr hab. inż. Kucewicz Wojciech (kucewicz@agh.edu.pl)
Osoby prowadzące:
prof. zw. dr hab. inż. Kucewicz Wojciech (kucewicz@agh.edu.pl)
Baszczyk Mateusz (baszczyk@agh.edu.pl)
Głąb Sebastian (sglab@agh.edu.pl)
Krótka charakterystyka modułu

Opis efektów kształcenia dla modułu zajęć
Kod EKM Student, który zaliczył moduł zajęć wie/umie/potrafi Powiązania z EKK Sposób weryfikacji efektów kształcenia (forma zaliczeń)
Wiedza
M_W001 Student ma uporządkowaną wiedzę o obecnym stanie i najnowszych trendach rozwojowych elektroniki oraz metodologii badań układów mikroelektronicznych; EL1A_W05, EL1A_W18, EL1A_W12 Aktywność na zajęciach,
Kolokwium,
Wykonanie ćwiczeń laboratoryjnych
M_W002 Student posiada wiedzę niezbędną do rozumienia zasad funkcjonowania systemów mikroelektronicznych EL1A_W05, EL1A_W10 Aktywność na zajęciach,
Kolokwium,
Wykonanie ćwiczeń laboratoryjnych
M_W003 Student posiada wiedzę pozwalającą na badanie struktur układów elektronicznych i systemów mikroelektronicznych EL1A_W13, EL1A_W12 Aktywność na zajęciach,
Kolokwium,
Wykonanie ćwiczeń laboratoryjnych
Umiejętności
M_U001 Student potrafi pozyskiwać informacje z literatury,potrafi integrować uzyskane informacje, dokonywać ich interpretacji, a także wykorzystywać je w pracach badawczych EL1A_U17, EL1A_U01 Aktywność na zajęciach,
Odpowiedź ustna,
Przygotowanie i przeprowadzenie badań,
Wykonanie ćwiczeń laboratoryjnych
M_U002 Student potrafi wykorzystać poznane metody i modele matematyczne, a także symulacje komputerowe do analizy i oceny systemu elektronicznego EL1A_U15, EL1A_U03 Aktywność na zajęciach,
Prezentacja,
Wykonanie ćwiczeń laboratoryjnych
Kompetencje społeczne
M_K001 Student rozumie potrzebę i zna możliwości ciągłego dokształcania się oraz podnoszenia swoich kompetencji zawodowych. EL1A_K01, EL1A_K02 Aktywność na zajęciach,
Odpowiedź ustna,
Sprawozdanie
Matryca efektów kształcenia w odniesieniu do form zajęć
Kod EKM Student, który zaliczył moduł zajęć wie/umie/potrafi Forma zajęć
Wykład
Ćwicz. aud
Ćwicz. lab
Ćw. proj.
Konw.
Zaj. sem.
Zaj. prakt
Zaj. terenowe
Zaj. warsztatowe
Inne
E-learning
Wiedza
M_W001 Student ma uporządkowaną wiedzę o obecnym stanie i najnowszych trendach rozwojowych elektroniki oraz metodologii badań układów mikroelektronicznych; + - - - - - - - - - -
M_W002 Student posiada wiedzę niezbędną do rozumienia zasad funkcjonowania systemów mikroelektronicznych + - + - - - - - - - -
M_W003 Student posiada wiedzę pozwalającą na badanie struktur układów elektronicznych i systemów mikroelektronicznych + - + - - - - - - - -
Umiejętności
M_U001 Student potrafi pozyskiwać informacje z literatury,potrafi integrować uzyskane informacje, dokonywać ich interpretacji, a także wykorzystywać je w pracach badawczych + - + - - - - - - - -
M_U002 Student potrafi wykorzystać poznane metody i modele matematyczne, a także symulacje komputerowe do analizy i oceny systemu elektronicznego - - + - - - - - - - -
Kompetencje społeczne
M_K001 Student rozumie potrzebę i zna możliwości ciągłego dokształcania się oraz podnoszenia swoich kompetencji zawodowych. + - + - - - - - - - -
Treść modułu zajęć (program wykładów i pozostałych zajęć)
Wykład:

Celem wykładu jest zapoznanie studentów z technologiami stosowanymi w elektronice oraz z najnowszymi trendami i kierunkami rozwoju.
Operacje technologiczne w produkcji układów scalonych
Podstawowe technologie mikroelektroniczne
Technologia CMOS
Skalowanie układów CMOS
Technologie trójwymiarowych układów scalonych i inne technologie przyszłości.
Technologie układów MEMS
Mikroelektroniczne systemy detekcyjne.

Ćwiczenia laboratoryjne:

W ramach laboratorium studenci zapoznają się z badaniem struktur układów scalonych oraz analizą sygnałów z krzemowych układów detekcyjnych.
1. System testowania struktury układu scalonego przy pomocy stanowiska igłowego.
2. Metodyka testownia detektorów paskowych przy pomocy promieniowania
podczerwonego
3. Rejestracja i analiza sygnałów z paskowego detektora krzemowego
4. Rejestracja i analiza obrazów w detektorze pikselowym.
5. Wykorzystanie narzędzia TCAD do modelowania struktury krzemowej i jej własności.
6. Analiza parametrów układów scalonych wykonanych w technologii SOI

Nakład pracy studenta (bilans punktów ECTS)
Forma aktywności studenta Obciążenie studenta
Sumaryczne obciążenie pracą studenta 60 godz
Punkty ECTS za moduł 3 ECTS
Udział w wykładach 20 godz
Udział w ćwiczeniach laboratoryjnych 20 godz
Samodzielne studiowanie tematyki zajęć 10 godz
Przygotowanie sprawozdania, pracy pisemnej, prezentacji, itp. 10 godz
Pozostałe informacje
Sposób obliczania oceny końcowej:

1. Warunkiem uzyskania pozytywnej oceny końcowej jest uzyskanie pozytywnych ocen z laboratorium
oraz kolokwium zaliczeniowego z wykładu.
2. Obliczamy średnią ważoną z ocen z laboratorium (50%) i wykładów (50%)
3 / 4
Karta modułu – Układy elektroniczne
3. Wyznaczmy ocenę końcową na podstawie zależności:
if sr>4.75 then OK:=5.0 else
if sr>4.25 then OK:=4.5 else
if sr>3.75 then OK:=4.0 else
if sr>3.25 then OK:=3.5 else OK:=3

Wymagania wstępne i dodatkowe:

1. Znajomość elementów elektronicznych oraz fizyki połprzewodników.
2. Znajomość funkcjonowania podstawowych układów elektronicznych

Zalecana literatura i pomoce naukowe:

B. Razavi – Fundamentals of Microelectronics – Wyd. John Wiley & Sons – 2008
M. Napieralska, G. Jabłoński – Podstawy mikroelektroniki – Wyd. Polit. Łódzka – 2002,
A. Sedra, K. Smith – Microelectronic Circuits – Wyd. Oxford Univ. – 2009
B. Bhushan _ Handbook of Nanotechnology – Wyd. Springer – 2004

Publikacje naukowe osób prowadzących zajęcia związane z tematyką modułu:

Nie podano dodatkowych publikacji

Informacje dodatkowe:

Brak