Module also offered within study programmes:
General information:
Annual:
2017/2018
Code:
RIA-2-302-ID-s
Name:
Niezawodność i diagnostyka urządzeń elektronicznych
Faculty of:
Mechanical Engineering and Robotics
Study level:
Second-cycle studies
Specialty:
Inżynieria Dźwięku w Mediach i Kulturze
Field of study:
Acoustic Engineering
Semester:
3
Profile of education:
Academic (A)
Lecture language:
Polish
Form and type of study:
Full-time studies
Course homepage:
 
Responsible teacher:
dr inż. Dąbrowska-Boruch Agnieszka (adabrow@agh.edu.pl)
Academic teachers:
dr inż. Dąbrowska-Boruch Agnieszka (adabrow@agh.edu.pl)
Module summary

Description of learning outcomes for module
MLO code Student after module completion has the knowledge/ knows how to/is able to Connections with FLO Method of learning outcomes verification (form of completion)
Skills
M_U001 Student posługuje się językiem angielskim w stopniu wystarczającym do czytania ze zrozumieniem literatury fachowej IA2A_U10 Test,
Execution of laboratory classes
M_U002 Student potrafi pozyskiwać informacje z literatury, baz danych i innych źródeł IA2A_U17 Test,
Execution of laboratory classes
M_U003 Student potrafi zaplanować proces testowania złożonego układu elektronicznego oraz systemu elektronicznego. Student posiada umiejętność wyboru metody testowania danego urządzenia cyfrowego Test,
Execution of laboratory classes
M_U004 Student posiada umiejętność oceny i porównania niezawodności dwóch systemów cyfrowych Test
Knowledge
M_W001 Student posiada znajomość standardowego sprzęgu do testowania wbudowanego Test,
Execution of laboratory classes
M_W002 Student ma wiedzę na temat niezawodności, diagnozowania błędów, metod lokalizacji uszkodzeń i testowania urządzeń elektronicznych Test,
Execution of laboratory classes
FLO matrix in relation to forms of classes
MLO code Student after module completion has the knowledge/ knows how to/is able to Form of classes
Lecture
Audit. classes
Lab. classes
Project classes
Conv. seminar
Seminar classes
Pract. classes
Zaj. terenowe
Zaj. warsztatowe
Others
E-learning
Skills
M_U001 Student posługuje się językiem angielskim w stopniu wystarczającym do czytania ze zrozumieniem literatury fachowej - - + - - - - - - - -
M_U002 Student potrafi pozyskiwać informacje z literatury, baz danych i innych źródeł + - + - - - - - - - -
M_U003 Student potrafi zaplanować proces testowania złożonego układu elektronicznego oraz systemu elektronicznego. Student posiada umiejętność wyboru metody testowania danego urządzenia cyfrowego + - + - - - - - - - -
M_U004 Student posiada umiejętność oceny i porównania niezawodności dwóch systemów cyfrowych + - - - - - - - - - -
Knowledge
M_W001 Student posiada znajomość standardowego sprzęgu do testowania wbudowanego + - + - - - - - - - -
M_W002 Student ma wiedzę na temat niezawodności, diagnozowania błędów, metod lokalizacji uszkodzeń i testowania urządzeń elektronicznych + - + - - - - - - - -
Module content
Lectures:
  1. Proste i zaawansowane metody testowania układów cyfrowych
  2. Kompresja badanych danych testowych w nowoczesnych metodach testowania
  3. Testowanie wbudowane i automatyczne testowanie w układach programowalnych i mikroprocesorowych
  4. Standaryzacja sprzęgu do automatycznego testowania wbudowanego
  5. Niezawodność układów scalonych
Laboratory classes:
  1. Analizator stanów logicznych

    praktyczne wykorzystanie analizatora stanów logicznych w testowaniu układów cyfrowych

  2. Algorytmy generacji testów

    zapoznanie się z algorytmami generacji testów, testowanie prostych układów cyfrowych z użyciem algorytmów generacji testów

  3. JTAG I

    symulacja testów z wykorzystaniem standardu IEEE 1149.1

  4. JTAG II

    praktyczne zastosowanie standardu IEEE 1149.1 w testowaniu układów elektronicznych

  5. X-jtag

    praktyczne zastosowanie standardu IEEE 1149.1 w testowaniu układów elektronicznych

  6. Analizator sygnatur

    praktyczne zastosowanie analizatora sygnatur w testowaniu systemów cyfrowych

  7. Chipscope

    testowanie układów programowalnych na przykładzie programu ChipScope PRO

  8. Test sprawdzający
Student workload (ECTS credits balance)
Student activity form Student workload
Summary student workload 60 h
Module ECTS credits 2 ECTS
Participation in lectures 15 h
Realization of independently performed tasks 15 h
Participation in laboratory classes 15 h
Preparation for classes 15 h
Additional information
Method of calculating the final grade:

1. Warunkiem uzyskania pozytywnej oceny końcowej jest uzyskanie pozytywnej oceny z laboratorium oraz kolokwium zaliczeniowego z wykładu.
2. Obliczamy średnią z ocen z kolokwiów
3. Wyznaczmy ocenę końcową na podstawie zależności:
if sr>4.75 then OK:=5.0 else
if sr>4.25 then OK:=4.5 else
if sr>3.75 then OK:=4.0 else
if sr>3.25 then OK:=3.5 else
OK:=3

Prerequisites and additional requirements:

· Znajomość zagadnień z zakresu techniki cyfrowej i układów programowalnych
· Znajomość zagadnień z zakresu analogowych układów elektronicznych
· Znajomość zagadnień z zakresu techniki mikroprocesorowej

Recommended literature and teaching resources:

1. R. Holland: Testowanie i diagnostyka systemów mikrokomputerowych, Warszawa, WNT 1993
2. J.W. Coffron: Lokalizacja uszkodzeń w systemach mikroprocesorowych, Warszawa, WNT 1985
3. A. Hławiczka: Łatwo testowalne układy i pakiety cyfrowe, Warszawa, WNT 1993
4. A. Sowiński: Automatyczne testowanie w mikroelektronice, Warszawa, WKiŁ 1991
5. Niraj Jha, Sandeep Gupta: Testing of Digital Systems, Cambridge University Press 2003

Scientific publications of module course instructors related to the topic of the module:

Additional scientific publications not specified

Additional information:

None