Module also offered within study programmes:
General information:
Name:
Testowanie i niezawodność
Course of study:
2019/2020
Code:
IETP-2-205-n
Faculty of:
Computer Science, Electronics and Telecommunications
Study level:
Second-cycle studies
Specialty:
-
Field of study:
Electronics and Telecommunications
Semester:
2
Profile of education:
Academic (A)
Lecture language:
Polish
Form and type of study:
Part-time studies
Course homepage:
 
Responsible teacher:
dr inż. Dąbrowska-Boruch Agnieszka (adabrow@agh.edu.pl)
Module summary

W ramach modułu przekazywana jest wiedza z zakresu niezawodności oraz metod testowania układów cyfrowych.

Description of learning outcomes for module
MLO code Student after module completion has the knowledge/ knows how to/is able to Connections with FLO Method of learning outcomes verification (form of completion)
Skills: he can
M_U001 Student posługuje się językiem angielskim w stopniu wystarczającym do czytania ze zrozumieniem literatury fachowej ETP2A_U03 Test,
Execution of laboratory classes
M_U002 Student potrafi zaplanować proces testowania złożonego układu elektronicznego oraz systemu elektronicznego. Student posiada umiejętność wyboru metody testowania danego urządzenia cyfrowego ETP2A_U05 Test,
Execution of laboratory classes
M_U003 Student posiada umiejętność oceny i porównania niezawodności dwóch systemów cyfrowych ETP2A_U05 Test
M_U004 Student potrafi pozyskiwać informacje z literatury, baz danych i innych źródeł ETP2A_U01 Test,
Execution of laboratory classes
Knowledge: he knows and understands
M_W001 Student ma wiedzę na temat niezawodności, diagnozowania błędów, metod lokalizacji uszkodzeń i testowania urządzeń elektronicznych ETP2A_W04 Test,
Execution of laboratory classes
M_W002 Student posiada znajomość standardowego sprzęgu do testowania wbudowanego ETP2A_W04 Test,
Execution of laboratory classes
Number of hours for each form of classes:
Sum (hours)
Lecture
Audit. classes
Lab. classes
Project classes
Conv. seminar
Seminar classes
Pract. classes
Zaj. terenowe
Zaj. warsztatowe
Prace kontr. przejść.
Lektorat
30 16 0 14 0 0 0 0 0 0 0 0
FLO matrix in relation to forms of classes
MLO code Student after module completion has the knowledge/ knows how to/is able to Form of classes
Lecture
Audit. classes
Lab. classes
Project classes
Conv. seminar
Seminar classes
Pract. classes
Zaj. terenowe
Zaj. warsztatowe
Prace kontr. przejść.
Lektorat
Skills
M_U001 Student posługuje się językiem angielskim w stopniu wystarczającym do czytania ze zrozumieniem literatury fachowej - - + - - - - - - - -
M_U002 Student potrafi zaplanować proces testowania złożonego układu elektronicznego oraz systemu elektronicznego. Student posiada umiejętność wyboru metody testowania danego urządzenia cyfrowego + - + - - - - - - - -
M_U003 Student posiada umiejętność oceny i porównania niezawodności dwóch systemów cyfrowych + - - - - - - - - - -
M_U004 Student potrafi pozyskiwać informacje z literatury, baz danych i innych źródeł + - + - - - - - - - -
Knowledge
M_W001 Student ma wiedzę na temat niezawodności, diagnozowania błędów, metod lokalizacji uszkodzeń i testowania urządzeń elektronicznych + - + - - - - - - - -
M_W002 Student posiada znajomość standardowego sprzęgu do testowania wbudowanego + - + - - - - - - - -
Student workload (ECTS credits balance)
Student activity form Student workload
Summary student workload 100 h
Module ECTS credits 4 ECTS
Udział w zajęciach dydaktycznych/praktyka 30 h
Preparation for classes 23 h
Realization of independently performed tasks 47 h
Module content
Lectures (16h):

Zajęcia w ramach modułu prowadzone są w postaci wykładu (18h), laboratorium (12h).

Wykład
1. Proste i zaawansowane metody testowania układów cyfrowych (5h)
2. Kompresja badanych danych testowych w nowoczesnych metodach testowania (2h)
3. Testowanie wbudowane i automatyczne testowanie w układach programowalnych
i mikroprocesorowych (5h)
4. Standaryzacja sprzęgu do automatycznego testowania wbudowanego (3h)
5. Niezawodność układów scalonych (3h)

Laboratory classes (14h):

Laboratorium
1. Analizator stanów logicznych (1,5h) – praktyczne wykorzystanie analizatora stanów logicznych w testowaniu układów cyfrowych

2. Algorytmy generacji testów (1,5h) – zapoznanie się z algorytmami generacji testów, testowanie prostych układów cyfrowych z użyciem algorytmów generacji testów

3. JTAG I (1,5h) – symulacja testów z wykorzystaniem standardu IEEE 1149.1

4. JTAG II (1,5h) – praktyczne zastosowanie standardu IEEE 1149.1 w testowaniu układów elektronicznych

5. X-jtag (1,5h) – praktyczne zastosowanie standardu IEEE 1149.1 w testowaniu układów elektronicznych

6. Analizator sygnatur (1,5h) – praktyczne zastosowanie analizatora sygnatur w testowaniu systemów cyfrowych

7. Chipscope (2h) – testowanie układów programowalnych na przykładzie programu Chipscope

8. Test sprawdzający (1h)

Additional information
Teaching methods and techniques:
  • Lectures: Treści prezentowane na wykładzie są przekazywane w formie prezentacji multimedialnej w połączeniu z klasycznym wykładem tablicowym wzbogaconymi o pokazy odnoszące się do prezentowanych zagadnień.
  • Laboratory classes: W trakcie zajęć laboratoryjnych studenci samodzielnie rozwiązują zadany problem praktyczny, dobierając odpowiednie narzędzia. Prowadzący stymuluje grupę do refleksji nad problemem, tak by otrzymane wyniki miały wysoką wartość merytoryczną.
Warunki i sposób zaliczenia poszczególnych form zajęć, w tym zasady zaliczeń poprawkowych, a także warunki dopuszczenia do egzaminu:

Participation rules in classes:
  • Lectures:
    – Attendance is mandatory: No
    – Participation rules in classes: Studenci uczestniczą w zajęciach poznając kolejne treści nauczania zgodnie z syllabusem przedmiotu. Studenci winni na bieżąco zadawać pytania i wyjaśniać wątpliwości. Rejestracja audiowizualna wykładu wymaga zgody prowadzącego.
  • Laboratory classes:
    – Attendance is mandatory: Yes
    – Participation rules in classes: Studenci wykonują ćwiczenia laboratoryjne zgodnie z materiałami udostępnionymi przez prowadzącego. Student jest zobowiązany do przygotowania się w przedmiocie wykonywanego ćwiczenia, co może zostać zweryfikowane kolokwium w formie ustnej lub pisemnej. Zaliczenie zajęć odbywa się na podstawie zaprezentowania rozwiązania postawionego problemu. Zaliczenie modułu jest możliwe po zaliczeniu wszystkich zajęć laboratoryjnych.
Method of calculating the final grade:

1. Warunkiem uzyskania pozytywnej oceny końcowej jest uzyskanie pozytywnej oceny z laboratorium oraz kolokwium zaliczeniowego z wykładu.
2. Obliczamy średnią z ocen z kolokwiów
3. Wyznaczmy ocenę końcową na podstawie zależności:
if sr>4.75 then OK:=5.0 else
if sr>4.25 then OK:=4.5 else
if sr>3.75 then OK:=4.0 else
if sr>3.25 then OK:=3.5 else OK:=3

Sposób i tryb wyrównywania zaległości powstałych wskutek nieobecności studenta na zajęciach:

Odrabianie zaległości odbywać się będzie w terminie ustalonym z prowadzącym.

Prerequisites and additional requirements:

· Znajomość zagadnień z zakresu techniki cyfrowej i układów programowalnych
· Znajomość zagadnień z zakresu analogowych układów elektronicznych
· Znajomość zagadnień z zakresu techniki mikroprocesorowej

Recommended literature and teaching resources:

R. Holland: Testowanie i diagnostyka systemów mikrokomputerowych, Warszawa, WNT 1993
J. W. Coffron: Lokalizacja uszkodzeń w systemach mikroprocesorowych, Warszawa, WNT 1985
A. Hławiczka: Łatwo testowalne układy i pakiety cyfrowe, Warszawa, WNT 1993
A. Sowiński: Automatyczne testowanie w mikroelektronice, Warszawa, WKiŁ 1991
Niraj Jha, Sandeep Gupta: Testing of Digital Systems, Cambridge University Press 2003

Scientific publications of module course instructors related to the topic of the module:

Additional scientific publications not specified

Additional information:

None